扫描电镜全称扫描电子显微镜,简称SEM,是一种超高速、高分辨、全自动、快速成像、场发射电子显微分析设备,是根据电子光学原理,用聚焦很细的电子束照射到要检测的样品表面,电子束与样品相互作用产生各种信息,使物质的细微结构在非常高的放大倍数下成像的仪器。
SEM加热样品台可用于电镜样品在不同的高温条件下的结构表征。具体功能如下:
1、采用四电极反馈控制系统对加热区域的样品进行精准均匀、安全控温;
2、高精度、高频反馈控温模式,具有实时温度控制及精确测量功能,内置绝对温标,并可软件自动标定,对任一芯片的每次升温过程进行自动校正和模拟出*优的升 温曲线,而非统计学的拟合曲线加热,能更好地反映热场实情并可自定义程序升 温曲线,设置升温速度,确保每片芯片每次测量温度的精确性,不受使用次数的 影响而降低,保证高温实验的重复性及可靠性;
3、超薄氮化硅膜(10 nm,25 nm,50 nm),不会影响电子信号采集;
4、观测区域全覆盖;
5、升温快、温度场稳定且均匀,升温过程样品几乎无漂移;
6、
SEM加热样品台
的加热芯片温度范围RT~1300℃,以及准确的控温技术可满足大多数科学研究的需求。