在透射电镜中实时表征材料在加热或加电条件下原子尺度结构及成分变化对于理解材料的热学、电学性能以及微观结构演化具有至关重要的意义。
透射电镜双倾光热原位系统通过MEMS芯片和光纤引入的光源在原位样品台内构建热、光复合多场自动控制及反馈测量系统，结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式，实现从纳米甚至原子层面实时、动态监测样品在真空环境下随温度、光场变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的原子级结构和成分演化等关键信息。透射电镜双倾光热原位系统具有优异的热学性能：
1.高精密红外测温校正，微米级高分辨热场测量及校准，确保温度的准确性。
2.两电极的超高频控温方式，排除导线和接触电阻的影响，测量温度和电学参数更准确。
3.采用高稳定性贵金属加热丝(非陶瓷材料)，既是热导材料又是热敏材料，其电阻与温度有良好的线性关系，加热区覆盖整个观测区域，升温降温速度快，热场稳定且均匀，稳定状态下温度波动≤±0.01℃。
4.采用闭合回路高频动态控制和反馈环境温度的控温方式，高频反馈控制消除误差，控温精度±0.01 ℃。
5.多级复合加热MEMS芯片设计，控制加热过程热扩散，极大抑制升温过程的热漂移，确保实验的高效观察。
6.加热丝外部由氮化硅包覆，不与样品发生反应，确保实验的准确性。
