透射电镜双倾光热原位系统

简要描述:透射电镜双倾光热原位系统通过MEMS芯片和光纤引入的光源在原位样品台内构建热、光复合多场自动控制及反馈测量系统,结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式,实现从纳米甚至原子层面实时、动态监测样品在真空环境下随温度、光场变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的原子级结构和成分演化等关键信息。

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  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2023-12-27
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详细介绍


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我们的优势

光学解决方案

1.一体式激光光源,集成紫外-可见-红外不同波段并输出特定波长激光,光信号强(最大强度不低于150 mW),可快速连续调节光源强度,响应时间短(毫秒级)

2.特殊结构设计,超低光损耗,能量稳定均匀。


优异的热学性能

1.高精密红外测温校正,微米级高分辨热场测量及校准,确保温度的准确性。

2.两电极的超高频控温方式,排除导线和接触电阻的影响,测量温度和电学参数更精确。

3.采用高稳定性贵金属加热丝(非陶瓷材料),既是热导材料又是热敏材料,其电阻与温度有良好的线性关系,加热区覆盖整个观测区域,升温降温速度快,热场稳定且均匀,稳定状态下温度波动≤±0.01℃。

4.采用闭合回路高频动态控制和反馈环境温度的控温方式,高频反馈控制消除误差,控温精度±0.01 ℃。

5.多级复合加热MEMS芯片设计,控制加热过程热扩散,极大抑制升温过程的热漂移,确保实验的高效观察。

6.加热丝外部由氮化硅包覆,不与样品发生反应,确保实验的准确性。


智能化软件和自动化设备

1.人机分离,软件远程调节激光波段和强度,程序自动化控制倾转角度。

2.自定义程序升温曲线。可定义10步以上升温程序、恒温时间等,同时可手动控制目标温度及时间,在程序升温过程中发现需要变温及恒温,可即时调整实验方案,提升实验效率。

3.内置绝对温标校准程序,每块芯片每次控温都能根据电阻值变化,重新进行曲线拟合和校正,确保测量温度精确性,保证高温实验的重现性及可靠性。

4.全流程配备精密自动化设备,协助人工操作,提高实验效率。




技术参数

类别 项目 参数
基本参数 杆体材质
高强度 钛合金
电极数 2
视窗膜厚 无膜或20nm
漂移率 <0.5 nm/min(稳定状态)
倾转角 α ≥ ±25°,β ≥ ±25°(实际范围取决于极靴型号)
适用电镜 ThermoFisher/FEI, JEOL, Hitachi
适用极靴 ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP
(HR)TEM/STEM 支持
(HR)EDS/EELS/SAED 支持升温过程及高温检测













应用案例

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1300°C恒温,金属合金扩散,芯片温度稳定性好,漂移率低

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室温-1000°C变温过程MOF材料碳化研究



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二氧化铈纳米颗粒在800℃高温、光照条件下的表面结构变化




















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