透射电镜双倾探针电学原位系统

简要描述：透射电镜双倾探针电学原位系统通过纳米探针对样品施加电场控制，结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式，实现从纳米层面实时、动态监测样品在真空环境下随电场变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的结构和成分演化等关键信息。

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我们的优势

纳米探针操纵系统

1．高精度压电陶瓷驱动，纳米级别精度数字化精确定位。

2．可对单个纳米结构进行操纵和电学测量。

优异的电学性能

特殊设计保证电学测量的低噪音和精确性，电流测量精度可达皮安级。

智能化软件

1．人机分离，软件远程调节电学条件，程序自动化控制倾转角度。

2．全程自动记录实验细节数据，便于总结与回顾。

类别	项目	参数
基本参数	杆体材质	高强度钛合金
	控制方式	高精度压电陶瓷
	倾转角	α≥±20°，β≥±20°（实际范围取决于透射电镜和极靴型号）
	适用电镜	Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi
	适用极靴	ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP
	(HR)TEM/STEM	支持
	(HR)EDS/EELS/SAED	支持

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