扫描电镜加热原位系统将MEMS气氛环境微腔和加热模块集成到扫描电镜样品台上，在扫描电镜中制造可控的环境并且可以对实验样品原位加热。可对样品进行可控温度的加热，电学测量芯片可对样品进行电性质测量。并可在进行加热和电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，极大拓展了透射电镜的功能和应用范围。使用同一个SEM样品台既可以实现不同的原位解决方案电学、加热等不同应用。本公司提供的CHIP-NOVA扫描电镜加热原位系统有优异的热学性能：1.高精密红外...

在透射电镜中实时表征材料在加热或加电条件下原子尺度结构及成分变化对于理解材料的热学、电学性能以及微观结构演化具有至关重要的意义。透射电镜双倾光热原位系统通过MEMS芯片和光纤引入的光源在原位样品台内构建热、光复合多场自动控制及反馈测量系统，结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式，实现从纳米甚至原子层面实时、动态监测样品在真空环境下随温度、光场变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的原子级结构和成分演化等关键信息。透射电镜双倾光热...

透射电子显微镜(TEM)是使用较为广泛的电子显微镜之一，和扫描电子显微技术共同组成了电子显微学的“两大支柱”。TEM的测试原理是利用透过样品的电子进行成像和结构分析，由于电子的穿透能力较弱，样品的厚度、导电性、磁性和分散性等特征对测试结果的好坏起到直接的影响。因此，相比于扫描电镜样品的制备，透射电镜的制样更加复杂和精细，对于不同的材料应当根据其特性并采用合适的制样方法。TEM测试中，为了获取高质量的样品图像，制样很关键。在制样的过程中，其中载网的选择也是至关重要。载网通常是一...

透射电镜是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件上显示出来的显微镜。透射电镜三维重构样品杆基于样品端超薄设计或360°旋转设计，满足生命科学、材料科学领域对三维重构表征的不同需求。透射电镜三维重构样品杆通过一系列不同倾斜角获得样品的二维平面成像信息，使用软件处理后可获得三维立体成像信息。直接使用3mm铜网样品进行观察，支...

透射电镜液体光学原位系统采用MEMS微加工工艺在原位样品台内构建液氛纳米实验室，通过样品台内置的光纤将光作为外场条件搭载其上，通过MEMS芯片和光纤引入的光源对样品施加光场刺激条件，在进行光学性质测量的同时，结合使用EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式，实现从纳米甚至原子层面实时、动态监测样品在液氛环境中随光场变化产生的微观结构演化、反应动力学、相变、元素价态、化学变化、微观应力以及表/界面处的原子级结构和成分演化等关键信息。实验中，样品被密封在超薄...